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新聞資訊
11-27
2023

推拉力測(cè)試設(shè)備主要部件夾具介紹及國(guó)際推拉力測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

國(guó)產(chǎn)LED、半導(dǎo)體、汽車(chē)電子推拉力測(cè)試設(shè)備生產(chǎn)廠家深圳博森源電子公司可以應(yīng)用于光通訊領(lǐng)域用測(cè)力設(shè)備、汽車(chē)行業(yè):汽車(chē)配件用pcb、bga、IBGT、航空航天:航空航天設(shè)備用芯片、晶片、微電子等。 推拉力測(cè)試設(shè)備廣泛應(yīng)用于芯片、smt、led、半導(dǎo)體、航空航天、汽車(chē)、研究機(jī)構(gòu)等行業(yè)中,以評(píng)估材料的力學(xué)性能和質(zhì)量。通過(guò)……

推拉力測(cè)試設(shè)備主要部件夾具介紹及國(guó)際推拉力測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
11-24
2023

航天航空用芯片推拉力測(cè)試機(jī)方法與流程

隨著現(xiàn)代航天航空技術(shù)的蓬勃發(fā)展,芯片在航天航空中的運(yùn)用日趨重要。航天航空產(chǎn)品對(duì)使用環(huán)境要求極其嚴(yán)苛,要經(jīng)歷發(fā)射環(huán)境、空間軌道環(huán)境、再入環(huán)境等,承受高溫、燒蝕、空間溫度的急劇變化、高真空、超低溫、熱循環(huán)、紫外線、帶電粒子、原子氧的特殊環(huán)境的考驗(yàn),這就意味著,應(yīng)用在航天航空上的芯片及其保護(hù)封裝也同樣面臨嚴(yán)苛的環(huán)境考驗(yàn),需要……

航天航空用芯片推拉力測(cè)試機(jī)方法與流程
11-22
2023

車(chē)用LED、光電器件、推拉力測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)流程

車(chē)用光電器件基于失效機(jī)制的應(yīng)力測(cè)試,適用于車(chē)用光電器件的綜合可靠性測(cè)試認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn),是光電器件應(yīng)用于汽車(chē)領(lǐng)域的基本門(mén)檻。針對(duì)封裝、后續(xù)電子組裝工藝,以及使用可靠性進(jìn)行的相應(yīng)元器件工藝質(zhì)量評(píng)價(jià),如端子強(qiáng)度、耐焊接熱、可焊性、綁線拉力剪切力、芯片推力等,這些測(cè)試都需要使用到多功能推拉力測(cè)試機(jī)。 測(cè)試方式有破壞性、非破壞性……

車(chē)用LED、光電器件、推拉力測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)流程
11-20
2023

金絲鍵合抗拉強(qiáng)度檢測(cè),芯片推拉力測(cè)試機(jī)應(yīng)用

為確保最優(yōu)的鍵合工藝參數(shù)能夠滿足產(chǎn)品的批生產(chǎn)要求,在產(chǎn)品裝配合格后隨機(jī)抽取 10 根金絲進(jìn)行抗拉強(qiáng)度檢測(cè),金絲抗拉強(qiáng)度值范圍為 9.07~12.21gf。批產(chǎn)試驗(yàn)產(chǎn)品最優(yōu)鍵合工藝參數(shù)可以滿足批產(chǎn)質(zhì)量要求。 金絲鍵合作為集成電路封裝過(guò)程中的關(guān)鍵工序,用于完成集成電路封裝中芯片與基板、基板與殼體間的電氣互連。引線鍵合……

金絲鍵合抗拉強(qiáng)度檢測(cè),芯片推拉力測(cè)試機(jī)應(yīng)用
11-16
2023

新能源汽車(chē)性能測(cè)試:電池電路板元器件推拉力測(cè)試臺(tái)

隨著新能源汽車(chē)的普及,動(dòng)力電池的安全備受關(guān)注。眾所周知,新能源電動(dòng)汽車(chē)的動(dòng)力源自鋰離子電池(也叫動(dòng)力電池),電池的質(zhì)量和安全性直接關(guān)系到汽車(chē)的性能和使用安全。 簡(jiǎn)單來(lái)說(shuō),新能源汽車(chē)如一臺(tái)大型的「機(jī)械生命體」,而電池就是其活力的「能量之源」。為確保電池的「健康」,我們需要像進(jìn)行「體檢」一樣,使用專(zhuān)業(yè)儀器全面檢查電池……

新能源汽車(chē)性能測(cè)試:電池電路板元器件推拉力測(cè)試臺(tái)
11-14
2023

焊點(diǎn)芯片自動(dòng)推拉力測(cè)試機(jī)半導(dǎo)體芯片剪切力測(cè)試

在半導(dǎo)體芯片的生產(chǎn)過(guò)程中,焊點(diǎn)的質(zhì)量和可靠性是非常重要的因素。為了確保芯片的質(zhì)量,需要對(duì)焊點(diǎn)進(jìn)行推拉力測(cè)試和剪切力測(cè)試。焊點(diǎn)芯片自動(dòng)推拉力測(cè)試機(jī)是一種專(zhuān)業(yè)用于測(cè)試焊點(diǎn)可靠性的設(shè)備。它能夠自動(dòng)的對(duì)焊點(diǎn)進(jìn)行推拉力測(cè)試,以評(píng)估焊點(diǎn)的可靠性和耐久性。同時(shí),它還可以進(jìn)行半導(dǎo)體芯片的剪切力測(cè)試,用于檢測(cè)芯片的強(qiáng)度和穩(wěn)定性。其工作原……

焊點(diǎn)芯片自動(dòng)推拉力測(cè)試機(jī)半導(dǎo)體芯片剪切力測(cè)試
11-11
2023

半導(dǎo)體生產(chǎn)測(cè)試環(huán)節(jié)多功能推拉力測(cè)試儀

半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓制造,晶圓測(cè)試,芯片封裝,封裝后測(cè)試組成,而測(cè)試環(huán)節(jié)主要集中在WAT,CP,F(xiàn)T三個(gè)環(huán)節(jié)。 SLT測(cè)試比ATE測(cè)試更嚴(yán)格,一般是性能測(cè)試,測(cè)試具體模塊的功能是否正常。我們的LB-8600多功能推拉力測(cè)試儀以速度、精度和可靠性作為基本設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn),提供了非常先進(jìn)的推拉力測(cè)試能力。 測(cè)試功能轉(zhuǎn)換……

半導(dǎo)體生產(chǎn)測(cè)試環(huán)節(jié)多功能推拉力測(cè)試儀
11-09
2023

金絲球焊引線鍵合推拉力測(cè)試評(píng)估方法及標(biāo)準(zhǔn)

通過(guò)對(duì)金絲球焊引線鍵合推拉力測(cè)試的深入了解和探討,我對(duì)于微電子器件封裝過(guò)程中的質(zhì)量控制和關(guān)鍵技術(shù)有了更清晰的認(rèn)識(shí)。推拉力標(biāo)準(zhǔn)的制定和執(zhí)行對(duì)于提高器件的可靠性和性能至關(guān)重要,這也進(jìn)一步加強(qiáng)了我對(duì)全自動(dòng)推拉力機(jī)在微電子行業(yè)的重要性和發(fā)展前景的信心。 通過(guò)本文的撰寫(xiě),我對(duì)于金絲球焊引線鍵合推拉力有了更深入和全面的了解?!?/p>

金絲球焊引線鍵合推拉力測(cè)試評(píng)估方法及標(biāo)準(zhǔn)
11-07
2023

芯片金線拉力測(cè)試機(jī)測(cè)試方法

芯片鍵合,作為切割工藝的后道工序,是將芯片固定到基板(substrate)上的一道工藝。引線鍵合(wire bonding)則作為芯片鍵合的下道工序,是確保電信號(hào)傳輸?shù)囊粋€(gè)過(guò)程。wire bonding是最常見(jiàn)一種鍵合方式。焊線封裝工藝:用導(dǎo)線將半導(dǎo)體芯片上的電極與外部引腳相連接的工藝,即完成芯片與封裝外引腳建的電流通……

芯片金線拉力測(cè)試機(jī)測(cè)試方法
11-03
2023

全自動(dòng)推拉力機(jī)在焊球剪切力強(qiáng)度測(cè)試的應(yīng)用

激光植球是近幾年發(fā)展起來(lái)的一種微連接技術(shù),具有工作區(qū)域精確、高能量效率、高穩(wěn)定性、自動(dòng)化系統(tǒng)集成等優(yōu)點(diǎn),能滿足微細(xì)間距、小直徑焊球的植球精度,理論上具有非常好的行業(yè)前景。然而,激光植球技術(shù)目前國(guó)內(nèi)鮮有應(yīng)用,主要用于研發(fā)及多品種小批量的植球,并未得到廣泛的使用,激光植球焊接強(qiáng)度較低是一個(gè)重要原因。全自動(dòng)推拉力機(jī)的應(yīng)用能提……

全自動(dòng)推拉力機(jī)在焊球剪切力強(qiáng)度測(cè)試的應(yīng)用
11-01
2023

芯片剪切力高度設(shè)置 led推拉力測(cè)試機(jī)參數(shù)剪切高度

在使用led推拉力測(cè)試機(jī)時(shí),經(jīng)常有客戶問(wèn)到芯片剪切力高度怎么設(shè)置?這里我們統(tǒng)一回復(fù)一下。一般剪切高度設(shè)置為20um,一般在設(shè)備出廠時(shí)候就設(shè)置好了,使用中最后不要?jiǎng)釉O(shè)備參數(shù),針對(duì)特殊材質(zhì)和尺寸,我們的工程師會(huì)按需設(shè)置。led推拉力測(cè)試機(jī)參數(shù)設(shè)置:(1)系統(tǒng)穩(wěn)定時(shí)間0.1s (2)XY軸絲桿有效行程:……

芯片剪切力高度設(shè)置 led推拉力測(cè)試機(jī)參數(shù)剪切高度
10-30
2023

焊線類(lèi)拉力測(cè)試儀:探索高質(zhì)量制造的新利器

今天要給大家科普一個(gè)有趣的設(shè)備——推拉力檢測(cè)儀,也叫多功能剪切力測(cè)試儀。主要用于各種領(lǐng)域,比如光模塊、5G光器件封裝、汽車(chē)電子、航空航天等等。它的特點(diǎn)就是動(dòng)作迅速、準(zhǔn)確,而且適用范圍廣泛!在這里我給大家科普一下關(guān)于推拉力檢測(cè)儀的原理知識(shí)?,F(xiàn)在我們來(lái)聊聊焊球類(lèi)/芯片剝離力功能原理。 這個(gè)原理是用來(lái)測(cè)量芯片焊球和基板……

焊線類(lèi)拉力測(cè)試儀:探索高質(zhì)量制造的新利器
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